1、【题目】下面的逻辑测试覆盖中，测试覆盖最弱的是

选项：

A.条件覆盖

B.条件组合覆盖

C.语句覆盖

D.判定/条件覆盖

答案：

C

解析：

暂无解析

1、【题目】没有正确修复的缺陷，需要进一步修复的缺陷是

选项：

A.NewMoreInfo

B.Diferred-NextBuild

C.Reopen

D.Diferred-NextMainRelease

答案：

C

解析：

暂无解析

1、【题目】下列关于软件缺陷状态的定义，不正确的是

选项：

A.New——测试中新报告的软件缺陷

B.Open——缺陷被确认并分配给相关开发工程师处理

C.Fixed——测试工程师已完成修正，等待开发人员验证

D.Closed——缺陷已被修复

答案：

C

解析：

暂无解析

1、【题目】在模块测试的过程中，采用自底向上的测试比自顶向下的测试

选项：

A.好

B..差

C.一样

D.未知

答案：

A

解析：

暂无解析

1、【题目】关于内置式合约测试(BICT)，下列说法错误的是()。

选项：

A.增加了测试器构件和测试处理器构件，使被测构件具有自测试能力

B.该测试方法可用于动态、分布式系统

C.提出的模型驱动方法效率很高

D.该测试方法的提出扩展了基于构件的软件I程实践

答案：

C

解析：

暂无解析